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產(chǎn)品(pǐn)展示
產品名稱:三廂(xiāng)衝擊試驗(yàn)箱廠(chǎng)家(jiā)150L
產(chǎn)品(pǐn)型號:JY-HJ-404
更新日期:2025-10-25
產(chǎn)品特點(diǎn):三廂衝(chōng)擊試(shì)驗箱廠家(jiā)150L冷熱衝擊試驗機廣泛用於電(diàn)子(zǐ)電器零(líng)組(zǔ)件(jiàn),自(zì)動化零部件(jiàn),通訊組件,汽(qì)車配(pèi)件,金屬,化(huà)學(xué)材料(liào),塑(sù)料等行業,國(guó)防工業,航天(tiān),兵(bīng)工業,BGA,PCB基(jī)扳(bān),電(diàn)子(zǐ)芯(xīn)片IC,半導體陶磁及(jí)高(gāo)分子(zǐ)材(cái)料之物(wù)理(lǐ)牲(shēng)變化,測試其材料(liào)對高(gāo),低溫的(dí)反(fǎn)復抵拉(lā)力(lì)及產(chǎn)品(pǐn)於(yú)熱脹(zhàng)冷縮產出的(dí)化學(xué)變(biàn)化(huà)或物(wù)理傷害(hài),可確認(rèn)產(chǎn)品的(dí)質(zhì)量(liáng),從精密的IC到重機械的(dí)組(zǔ)件(jiàn),可(kě)作為其產品(pǐn)改(gǎi)進(jìn)的依據或(huò)參(cān)考
三廂(xiāng)衝擊試驗箱廠家(jiā)150L主要技術性能概(gài)述(shù)
1.內部(bù)尺寸:HxD(㎝)50x60x50
2.外(wài)部尺寸:HxD(㎝)160x215x170
3.衝擊(jī)溫度範圍: -40~150℃
4.預熱上限溫(wēn)度(dù):180℃,預冷(lěng)下(xià)限溫度-70℃
5.降溫時(shí)間:從(cóng)常溫(10~30)→-70℃≤50min
6.升(shēng)溫(wēn)時(shí)間:從常(cháng)溫(在10~30℃)→+150℃ ≤45 min
7.低(dī)溫衝(chōng)擊溫度範圍:-40℃~-10℃
8.高溫衝(chōng)擊(jī)溫(wēn)度範圍(wéi):+60℃~+125℃
9.衝(chōng)擊溫(wēn)度(dù)恢復時(shí)間(jiān):≤5 min,(國標(biāo)要(yào)求)
恢(huī)復(fù)條件: 高溫(wēn)衝擊 +125℃ 小(xiǎo)於30 min
低(dī)溫(wēn)衝擊 -40℃ 小(xiǎo)於30 min
10.溫(wēn)度分佈均勻(yún)度(dù):±2℃
11.溫(wēn)控(kòng)製(zhì)穩(wěn)定(dìng)度: ±0.5℃
12.衝擊(jī)恢(huī)復時間(jiān):5分(fēn)鐘(控製點).
13.溫(wēn)度(dù)切(qiē)換時間:10秒(miǎo)以(yǐ)內。
三(sān)廂衝(chōng)擊試驗箱廠家(jiā)150L設備控製特(tè)點
1. 與眾不同的省電(diàn)特點(diǎn):
2. 7″TFT真彩(cǎi)LCD觸(chù)摸(mō)屏,控製(zhì)器界麵操作更(gēng)方(fāng)便簡(jiǎn)單,運(yùn)行(háng)可靠,穩定(dìng)。
3. 具有(yǒu)USB接(jiē)口直接拷貝(bèi)及記錄功能(néng),包(bāo)括歷(lì)史曲(qū)線,歷史(shǐ)數(shù)據(jù)等(děng),直接拷(kǎo)貝到電(diàn)腦(nǎo)查看分析(xī)及存(cún)盤。
4. 具R-232C通訊(xùn)介麵,可雙(shuāng)向(xiàng)操控(kòng)機器及電腦硬盤儲存資(zī)料(liào)。
5. 可通(tōng)過因(yīn)特(tè)網遠(yuǎn)距(jù)離(lí)監控(kòng)機器運行情(qíng)況,及(jí)遠(yuǎn)程(chéng)操控(kòng)機器(選(xuǎn)購(gòu))。
6. 可進(jìn)行高溫(wēn),低溫(wēn)衝(chōng)擊或(huò)高溫,常溫,低(dī)溫(wēn)衝擊,可(kě)獨立運(yùn)行(háng)高溫(wēn),或低溫(wēn)儲(chǔ)存條(tiáo)件。
7. *程序功能(néng)
8. 以60秒鐘的采(cǎi)樣計算,可保證120天(tiān)的實(shí)時(shí)曲(qū)綫(xiàn)采樣和(hé)歷(lì)史(shǐ)數(shù)據(jù)的(dí)存貯(zhù)。可以由(yóu)3秒鐘(zhōng)到1小(xiǎo)時內,任意(yì)設定其取樣速(sù)率。
9. 超長(cháng)的(dí)程序容量(liáng):96組試(shì)驗條(tiáo)件(jiàn)32000次循環記憶。
10. 試驗時(shí)間(jiān):540小(xiǎo)時(shí)59分鐘(zhōng)的(dí)設定時(shí)間(jiān)。
11. 符合規範:
GB2423,IEC68-2-14,JIS C 0025,MIL-STD-883E,IPC 2.6.7,GB/T 5170.2-1996
巨(jù)夷(yí)儀器為您(nín)定(dìng)製
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